SJ/T 11399-2009 半导体发光二极管芯片测试方法
作者:标准资料网 时间:2024-05-17 00:13:56 浏览:8033
来源:标准资料网
基本信息
| 标准名称： | 半导体发光二极管芯片测试方法 |
| 英文名称： | Measurement methods for chips of light emitting diodes |
| 中标分类： |
电子元器件与信息技术 >>
半导体分立器件 >>
微波、毫米波二、三极管 |
| ICS分类： |
电子学 >>
光电子学、激光设备
|
| 发布部门： | 工业和信息化部 |
| 发布日期： | 2009-11-17 |
| 实施日期： | 2010-01-01 |
| 首发日期： | |
| 作废日期： | |
| 主管部门： | 工业和信息化部电子工业标准化研究所 |
| 归口单位： | 工业和信息化部电子工业标准化研究所 |
| 起草单位： | 中国光学光电子行业协会光电器件分会、厦门华联电子有限公司、杭州浙大三色仪器有限公司、深圳淼浩高新科技有限公司 |
| 起草人： | 鲍超、胡爱华、牟同升、李明远、彭万华 |
| 出版社： | 电子工业出版社 |
| 出版日期： | 2010-01-01 |
| 页数： | 11页 |
适用范围
主要规定了电学参数、热学参数、色度学参数以及静电放电敏感性测试等主要性能参数的测试方法。
前言
没有内容
目录
没有内容
引用标准
没有内容
所属分类： 电子元器件与信息技术 半导体分立器件 微波 毫米波二 三极管 电子学 光电子学 激光设备
【英文标准名称】:EnvironmentaltestingPart2:Tests,TestZ/AM:Combinedcold/lowairpressuretests
【原文标准名称】:环境试验.第2部分:试验.试验Z/AM:低温/低气压组合试验
【标准号】:JISC0030-1995
【标准状态】:作废
【国别】:日本
【发布日期】:1995-06-01
【实施或试行日期】:
【发布单位】:日本工业标准调查会(JISC)
【起草单位】:TechnicalCommitteeonElectricityTechnology
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:电气设备;电子设备及元件;冷式法;环境试验;电气元件;低压试验
【英文主题词】:environmentaltesting;low-pressuretests;coldtests
【摘要】:
【中国标准分类号】:A21
【国际标准分类号】:19_080;19_040
【页数】:8P;A4
【正文语种】:日语
【英文标准名称】:Aerospaceseries-Tubes-Selectionforenginesfluidsystems;GermanandEnglishversionEN3717:2008
【原文标准名称】:航空航天系列.管.发动机防冻液系统的选择
【标准号】:EN3717-2008
【标准状态】:现行
【国别】:
【发布日期】:2008-12
【实施或试行日期】:
【发布单位】:欧洲标准学会(EN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:航空航天运输;空气;航空运输;铝;尺寸;发动机;流体系统;煤油;多语种的;油;管直径;管道;管;选择;航天运输;不锈钢;钛合金;壁厚;重量
【英文主题词】:Aerospacetransport;Air;Airtransport;Aluminium;Dimensions;Engines;Fluidsystems;Kerosine;Multilingual;Oils;Pipediameters;Pipelines;Pipes;Selection;Spacetransport;Stainlesssteels;Titaniumalloys;Wallthicknesses;Weights
【摘要】:
【中国标准分类号】:V04
【国际标准分类号】:49_080
【页数】:10P.;A4
【正文语种】:英语
